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從這些特點及應用去了解YAG激光器YAG激光器是以釔鋁石榴石晶體為基質的一種固體激光器。釔鋁石榴石的化學式是Y3Al5O15，簡稱為YAG。和其他固體激光器一樣，設備基本組成部分是激光工作物質、泵浦源和諧振腔。該機光束質量好、具有高效率、低成本、穩定、安全、更精密、可靠性高，集切割、焊接、打孔等多功能為一體，是理想的精密高效柔性加工設備。一、設備特點：加工速度快，效率高，經濟效益好，直邊割縫小，切割面光滑，可獲得大的深徑比和深寬比熱變形極小，可在硬、脆、軟等各種材料上進行加工不存在刀具磨損、替換問題，無機械變...
2021 12-20
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激光功率計的測量原理分析激光功率計是用來測試連續激光的功率或者脈沖激光在某一段時間的平均功率的儀器。激光功率計功率測量原理：激光探頭是一個涂有熱電材料的吸收體，熱電材料吸收大部分的光能量并轉化成熱量，只有少部分反射。吸收與反射比例與材料的光譜響應曲線有關，吸收體的儲熱體和它的厚度決定了熱量傳輸到探頭的速度和反應時間。探頭溫度變化，能夠產生電流，電流通過薄片環形電阻轉變成電壓信號傳輸出來。激光入射，測得的電壓隨時間快遞上升，然后在緩慢衰減，一段時間后恢復到零。這就是測量的熱現象，上升和衰減時間不受負載...
2021 12-20
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棱鏡耦合測試儀的特性及應用領域介紹棱鏡耦合測試儀主要是用于電解質和聚合物膜的厚度、折射率和波導參數的快速測量。適用于薄膜厚度在2-100µm的聚合物材料、硅基氧化膜、硅基玻璃膜，在干涉條紋產生的基礎上通過改變角度產生干涉條紋（VAMFO-變角度單色條紋觀測）的方法。對于厚膜折射率的測量，單色光被直接照射到被測樣品上，這樣，從薄膜表面反射回來的光的干涉小值就會發生變化，光的入射角也會發生變化。在這種技術中，薄膜厚度是由兩個干涉小值的角的位置計算出來的。對于這種測量條件——薄膜具有兩個或兩個以上的干擾...
2021 12-15
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ElFys黑硅光電探測器應用介紹ElFys提供一系列高性能黑硅光電二極管。該光電探測器是通過采用表面納米結構技術與原子層沉積涂層相結合，大大提高了光收集效率。在200nm至950nm范圍內具有光響應，外量子效率≥96%（通過德國國家計量研究院PTB認證）。此光電探測器在紫外波段也同樣具有*的量子效率，比普通的硅光電二極管高出兩倍以上。黑硅表面與定制的原子層沉積涂層相結合，極大地提高了感應角度范圍內的表面吸收率，具有*吸光度的超寬感應角度（95%@60°）ElFys提供SM和PD兩大系列的標準產品，也可以針對...
2021 12-10
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使用膜厚測量儀時，需要注意哪些事項？膜厚測量儀屬于一種常見的薄膜厚度測量儀器，在日常生活以及工業制造中都可以看見它的身影，膜厚主要對各種薄膜的厚度進行測定，測量速度快、精度高，在薄膜制造業有著很重要的應用。除此之外，它還具有作業位置靈活、數據輸出、測量單位自動轉換等特性，更是方便了人們的測量工作。這種儀器在行業當中的zhi名度很高，有著非常重要的作用，它可以測試金屬以及其他各種材料的厚度，現如今被廣泛的運用在化工，冶金、造船、石油、航天等領域當中，能給人們的生活帶來很大的幫助。同時它在特點方面也非常突出，比如擁...
2021 12-9
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光纖光譜儀的工作原理和特點分析光纖光譜儀屬于光譜儀一種常用類型，具有靈敏度高、操作簡便、使用靈活、穩定性好、度高等優點。光纖光譜儀工作原理：光纖光譜儀結構緊湊，包括入射狹縫、準直物鏡、光柵、成像反射鏡、濾色片和陣列探測器，還包括數據采集系統和數據處理系統。光信號經入射狹縫投射到準直物鏡上，將發散光變成準平行光反射到光柵上，色散后經成像反射鏡將光譜呈在陣列接收器的接收面上，形成光譜譜面。光譜譜面既是單色光的序列排布(有次光譜影響)，讓整個光譜中任一個微小譜帶照射到相對應探測器的像元上，在此將光信號轉換成電子...
2021 12-7
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走過路過，激光M2因子分析儀的這些優點不能錯過激光M2因子分析儀其物理實質是將實際激光光束與標準基模高斯光束（TEM00）進行比較，反映實際激光光束與標準基模高斯光束（TEM00）的接近程度。儀器在工作過程中造束腰透鏡和相機位置固定，通過兩片反光鏡在光學導軌上的自動移動，相機就可以的捕捉到從近場到遠場不同位置的激光光斑，再通過軟件進行數據分析與計算，從而得到M2值、發散角、束腰大小等參數。Spiricon采用了的Ultracal基線校準技術，從而可以有效去除環境噪聲，得到準確的數據。它是一款符合ISO標準的M2測量設備，...
2021 11-20
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帶通濾光片的原理及方向帶通濾光片，一般的濾光片包括長波通濾光片，短波通濾光片等。濾光片是用來選取所需輻射波段的光學器件。濾光片的一個共性，就是沒有任何濾光片能讓天體的成像變得更明亮，因為所有的濾光片都會吸收某些波長，從而使物體變得更暗。帶通濾光片是通過在基底表面沉積多層光學材料制備而成的。通常情況下，多個介質膜堆由間隔層隔開。介質膜堆由大量高折射率和低折射率的介質材料層交替組成。介質膜堆中每層膜的厚度為λ/4，其中，λ為濾光片的中心波長(即濾光片最大透過率處對應的波長)。間隔層位于介質膜堆之間，厚...
2021 10-18
